从基础结构透析光伏晶硅高效电池发展.docx
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1、从基础结构透析光伏晶硅高效电池发展一、光伏电池工艺技术原理及发展历史1.1 光伏发电是由半导体的光生伏特效应产生太阳能电池工作原理的基础是半导体的光生伏特效应,当物体受到光照时,物体内的电荷分布状态发生变化而产生电动势和电流的一种效应。晶体硅太阳能电池本质上就是一个大面积的二极管,由pn结、钝化膜、金属电极组成。在n型衬底上掺杂硼源,P型衬底上掺杂磷源,分别形成P+或n+型发射极。并与硅衬底形成Pn结。该Pn结形成内建电场,将光照下生产的光生载流子(电子空穴对)进行分离,分别被正面和背面的金属电极收集。根据丁健宁等高效晶体硅太阳能电池技术,常规晶硅太阳能电池从上到下结构依次为正面栅线电极、正面
2、减反膜SINX,PN结、硅衬底、背表面场以及背面金属电极。影响电池性能的参数主要有开路电压、短路电流、填充因子等。根据丁健宁等高效晶体硅太阳能电池技术,当受到光照的太阳能电池接上负载时,光生电流流经负载,并在负载两端产生电压。可计算出电池性能的外部参数:开路电压VOC,短路电流ISC,最佳工作电压VM,最佳工作电流IM、最大功率PM、填充因子FF,以及串联电阻RS、并联电阻RSH和电池效率o根据丁健宁等高效晶体硅太阳能电池技术,在太阳能电池负载特性曲线中,曲线上的每一点称为工作点,工作点和原点的连线称为负载线,斜率为1/RL,工作点的横坐标和纵坐标即为相应的工作电压和工作电流。I-V曲线与V、
3、I两轴的交点即开路电压VOC,短路电流ISCo若改变负载电阻R到达某一个特定值RM,此时,在曲线上得到一个点M,对应的工作电流与工作电压之积最大我们就称点M为该太阳能电池的最大功率点;其中IM为最佳工作电流,VM为最佳工作电压,RM为最佳负载电阻,PM为最大输出功率。PM与开路电压、短路电流之积的比值就称为填充因子(FF)o1.2 电池效率的损失归因:光学损失、电学损失、电阻损失在进行光电转换过程中,根据丁健宁等高效晶体硅太阳能电池技术,造成太阳能电池效率损失的主要原因有:1)能量小于电池吸收层禁带宽度的光子不能激发产生电子空穴对;2)能量大于电池吸收层禁带宽度的光子被吸收,产生的电子空穴分别
4、被激发到导带和价带的高能态,多余的能量以声子形式释放,高能态的电子空穴又回到导带底和价带顶,导致能量的损失;3)光生载流子在pn节内分离和运输时,会发生复合损失;4)半导体材料与光生载流子运输过程金属电极接触的非欧姆接触引起电压降损;5)光生载流子运输过程中由于材料缺陷、界面缺陷等导致的复合损失。1.2.1 光学损失概述晶体硅是光学带隙为1.12eV的间接带隙半导体材料。根据丁健宁等高效晶体硅太阳能电池技术,对晶体硅太阳能电池而言,太阳光中低于1.12eV能量的长波段光子能量太低,不足以提供足够的能量来产生自由载流子。这部分光子占比大约30%,电池无法利用。而短波的光子能量高,激发一个电子从价
5、带到导带只需1.12eV的能量,多余的光子能量又无法利用。=Exe)m 一/朝覆寒女_S生AMl.5G的太阳光谱图I5100O500050010150020002500波长nm光学损失的另一方面还来自晶体硅太阳能电池的结构和工艺。首先,对于晶体硅而言,硅折射率在3.8左右,空气折射率略大于1,两者差值很大。当太阳光照射在晶体硅表面时,由于折射率的差异,会导致入射光中很大一部分(30%40%)光被反射出去。其次,晶体硅是间接带隙半导体材料,光吸收系数相对较低。长波长光入射进硅片不能被充分吸收,导致部分光从电池背面透出。此外,晶体硅太阳能电池的正面金属栅线会遮挡入射光。1.2.2 电学损失概述根据
6、丁健宁等高效晶体硅太阳能电池技术,半导体内的缺陷和杂质能够俘获载流子,增大载流子的复合概率。复合陷阱浓度越高,陷阱能级越靠近禁带的中央陷阱的俘获截面积就越大,载流子的运动速度越快,被陷阱俘获的数量就会越多,从而陷阱辅助复合的速率越大,载流子寿命越短。硅片体内由于存在掺杂、杂质、缺陷等因素,光生少数载流子在硅片内运动时,很容易被复合掉。另外,半导体材料表面高浓度的缺陷,称之为表面态。电子和空穴会通过表面这些缺陷复合,称为表面复合或者界面复合。复合损失主要有辐射复合、俄歇复合、SRH复合(ShoCkIey-Read-Hall,非平衡载流子复合)和表面复合。辐射复合:光生载流子的逆过程,对于直接带隙
7、的半导体而言,辐射复合是半导体材料内部复合的主要方式,但对于间接带隙的硅来说,辐射复合需要声子的参与,所以其辐射复合相对要小很多,在晶体硅太阳能电池复合中不起主导作用。俄歇复合:当电子与空穴复合时,复合产生的能量会传递给另外一个电子或空穴,使其获得足够的动能,跃迁到更高能态,成为热载流子,然后在弛豫时间内,以声子的形式发散到晶格中,这就是所谓的俄歇复合。俄歇复合速率与载流子的浓度有关,是高掺杂浓度区域(发射极)的主要复合方式。SRH复合:晶格缺陷会在禁带中产生额外的能级,这些能级也会成为复合的中心。电子和空穴通过禁带中的陷阱能级进行复合,导带中的电子可通过这些复合中心跃迁至价带,这就是所谓的S
8、RH复合。表面复合:晶体硅的表面同样也存在大量的位错、悬挂键、晶格损伤等缺陷而导致载流子复合。1.2.3 电阻损失概述太阳能电池实际工作中,串联电阻Rs和并联电阻Rsh等寄生电阻会影响转换效率。RS源于大面积太阳能电池电流流向的电阻和金属栅线等的接触电阻,并联电阻Rsh主要受pn结结构和制备过程中的工艺影响。串联电阻主要由Si的体电阻、前后电极的接触电阻、发射极电阻、细栅电阻、主栅电阻和焊接带电阻组成。串联电阻的高低与电池的填充因子有强相关性,当串联电阻过高时,电池的填充因子会较低。并联电阻的形成较为简单,一般认为是在晶体硅太阳能电池边缘产生的。以P型硅片为例,由于发射极中的电子能够通过表面态
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