X荧光光谱分析.ppt
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1、X-X-荧光光谱分析荧光光谱分析教学要求教学要求 了解等离子X荧光光谱产生的基本原理;掌握X荧光光谱法定性、定量分析的理论依据。了解等离子X荧光光谱仪的基本构成和工作原理。了解X荧光光谱分析有那些主要制样方法。了解日常使用和维护X荧光光谱仪的主要事项。复习题1,简述射线、射线荧光光谱法定义。2,射线能量范围和波长范围是多大?什么是X射线特征谱线?3,何为波长色散型和能量色散型射线荧光光仪?4,波长色散型射线荧光光仪有哪几个关键部件?能量色散型射线荧光光仪有哪几个关键部件?5,射线荧光光谱法日常定量分析主要采取什么方法?6,制样的目的是什么,PTA分析制样是否采用压片法,液体样品呢?7,正在分析
2、过程突然断电,如何处理?8,更换气瓶注意什么?第一节 X射线光谱分析理论基础 概述 射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发生的电磁辐射,是一种短波长的电磁辐射波,波长介于紫外线和射线之间,一般指波长0.01-11.3nm的电磁波。射线照射物质时,将发生透射、散射、衍射或吸收,吸收后发射出次级射线,或激发原子核外电子生成光电子,由此构成了射线分析法。对次级射线进行波长色散,测定,构成射线荧光光谱法;1.1、X射线光谱分析电磁波 电磁辐射10=1nm=10-3m=10-6mm=10-9mXRF analysis covers the following energy-respecti
3、ve wavelength range:E=0.11 -60 keV =11.3 -0.02 nmor元素范围从铍(Be)到铀(U)1.2、X射线分析用单位 单位单位24.1nmkeVE24.1keVEnm1.3、X射线荧光光谱法(XFS)(x-rayfluorescence spectrmetuy)当照射原子核的射线能量与原子核的内层电子的能量在同数量级时,核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁,而在内层电子轨道上留下一个空穴,处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴,将过剩的能量以次级射线的形式放出,所产生的次级射线即为代表各元素特征的射线荧光光谱线。其能量等于原子内壳层电子的能级差,即
4、原子特定的电子层间跃迁能量。只要能测出一系列射线荧光光谱线的波长,即能确定元素的种类;测得特征谱线强度并与标准样品比较,即可确定该元素的含量。由此建立了射线荧光光谱法。1.4、X射线的产生 过程电子跃迁(特征谱线辐射)电子减速(韧致辐射,or 连续谱)电子改变方向(同步加速器)电子能量的减少产生X射线1.5、X射线的产生图示 X射线的产生:连续谱线(韧致辐射)射线的产生:连续谱线(韧致辐射)快速返回的电子Fast inbound electron脱离的电子 Outbound electron(decelerated and Diverted)发射的x射线光子 1.6、荧光X射线的种类 入射的射
5、线光子具有相对大的能量,该能量可以打出元素原子内层中的电子。K层空缺时,电子由L层落入K层,辐射出的特征射线称为K线;从M层落入K层,辐射出的特征射线称为K线。同时L系射线也有L、L等特征射线。还存在伴峰谱线。射线荧光分析法多采用K系L系荧光。其它线系则较少采用。1.6、X-射线荧光的产生射线荧光的产生 特征特征X射线荧光射线荧光-特征特征X射线光谱射线光谱碰撞内层电子跃迁H空穴外层电子跃迁LX射线荧光射线荧光原子内吸收原子内吸收另一电子激发另一电子激发电子能电子能谱分析谱分析自由电子自由电子Auger效应竞争竞争几率几率荧光辐射Z11的元素;的元素;重元素的外层重元素的外层空空穴;穴;重元素
6、内层重元素内层空空穴穴;K,L层层;1.7、特征X射线 X射线特征谱线:每一个轨道上的电子的能量是一定的,因此电子跃迁产生的能量差也是一定的,释放的X射线的能量也是一定的。这个特定的能量与元素有关,即每个元素都有其特征谱线1.7、特征X射线KLM高能量光子K光子K光子L光子1.7、会产生特征谱线的元素1.7、特征谱线K seriesL series谱线的命名规则谱线的命名规则1、元素符号、元素符号2、K,L,M 3、,如:如:Fe K 11.8、射线荧光光谱法突出优点 1、谱线简单,元素之间的干扰比发射光谱小,它基本不受化学键和元素在化合物中的状态的影响;2、大多数元素的检出线达10-510-
7、8g/g;3、分析元素的范围宽;4、定量分析响应范围宽;5、制样简单,属无损分析;6、分析速度快;第二节 X射线荧光光谱仪 射线荧光光谱仪主要分为波长色散型和能量色散型。波长色散型根据射线衍射的原理以分光晶体和狭缝组合起来作为射线分光器对波长进行选择。对应的仪器为波长色散型(wavelenth dispersion,WD)。能量色散型不用分光元件,用半导体检测器直接检出射线,用多道能量分析器(MCA)进行能量分析,半导体检测器对荧光射线有特殊的识别能力。对应的仪器为能量色散型(energy dispersion,ED)。2.1、波长色散型X射线荧光光谱仪 荧光X射线的波长由分光晶体按波长大小进
8、行分光,分成各自独立的光谱线,分光原理依据布拉格定律,即晶面间距d、反射波长,衍射角和衍射级数n之间满足 2 dsin=n。谱线的荧光强度由正比计数器或闪烁计数器进行测量。2.1、波长色散型X射线荧光光谱仪 仪器结构及(原理图):X射线射线光管光管样品样品探测器探测器 N X射线光管发射的原级射线光管发射的原级 X射线入射至样品,激发射线入射至样品,激发 样品中各元素的特征谱线样品中各元素的特征谱线分光晶体将不同波长分光晶体将不同波长 的的X射线分开射线分开计数器记录经分光的计数器记录经分光的 特定波长的特定波长的X射线光子射线光子 N根据特定波长根据特定波长X射线光子射线光子 N的强度,计算
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