测量系统分析控制程序.docx
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1、测量系统分析控制程序文件编号陀本号O1.修改次数0编制/日期生效日期审核/日期页码第I页,共5页批准/日期受控状态更改历史版本号文件更改号更改篇要修改人批准人01首发行发放范围1 .目的:对测出系统变差进行分析惮估,以确定削量系统是否满足规定要求,确保测量系统处于稳定受控状态.2 .适用范困:适用于本公司控制计划中涉及的冽域系统的分析、评价和控制,及客户有要求时的测域系统的分析评价控制,3 .职责:3.1 APQP小殂:负责在新项目/新产品开发的RPQP过程中,如想制定测量系统分析计划:3 .2品管部:负费实施测试系统分析,并对测址系统进行监控;3.3各部门:负货参与测量:系统分析和评价工作.
2、4 .定义:1.1测玳系统:用来对被测特性赋值的操作、程序、Wk具、设备、软件以及操作人员的集合:用来获得冽出结果的整个过程:42测量系统分析(MSA):指给某一产品,限务的一个特性给定数值的过程,并用于分析该过程时量化测埴值的影响程度:4. 3稳定性:测盘系统在某持续时间内测St同一基准或零件的单一特性时获得的油房值总变差:1.4偏倚性:测量结果的观测平均值与基准值的差值:4. 5重复性:由个评价人,采用种测H设备,多次测曜网一零件的同特性时获得的测录值变差;4.6再现性:由不同的评价人,采用相同的测量设备,测搔同专件的同一特性时测量平均值的变差:4. 7线性:在出具预期的工作量程内,偏倚优
3、的差值。5.程序:5. 1测1系统分析时机:5.1.1 产品在进行质量先期策划时,所用的体现在控制计划中的测量设备,需进行测盘系统分析:5.1.2 客户有要求对相关的测量系统迸行分析时:5. 1.3测证系统发生如新检具投入使用、检验人员发生变化、所测盘的零件公差变小等更改时,需要再进行测量:系统分析.5. 2测埴系统分析计划:5.1.1 在APQP中过程设计和开发阶段,根据设计开发需要,由品管部制定检验测试设备年度校验计划机枪验测试设备年度校验计划:必须包含控制计划中提及的所有检测设备或仪器,例如:卡尺、千分尺等:5.1.2 土梅粉测试设招年度校验计划经审批后,在APQP小组内进行传达和沟通,
4、必要时,卜发到各相关部门。5. 3测址系统分析内容:测量系统分析的内容有:理复性和再现性分析(CMR)、稳定性分析、偏倚分析、税形分析和计数型量具小样法分析等“一般情况下,本公司主要对量具进行苴更性和再现性分析(GR&R)。5. 3.1或复性和再现性分析(GKftK):5. 3.1.1.均值极差法:u)选择23个操作员,抽取210个样件,财同一特性重复测班23次:b)选择1名记录员,将测量结果记录在“量具用女性和再现性数据表”上;C)依据数据我和质仪特性表对各要求,出具“吊具亚复性和再现性报告”,(具体方法参见IMSAJ手册)d)接受准则:误差10%:测量系统Ur接受;一一1。%W误差W3Q%
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