GB_T 43870.1-2024 磁性材料居里温度的测量方法 第1部分:永磁材料.docx
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1、ICS29.030CcS1.19中华人民共和GB国家标准GB/T43870.12024磁性材料居里温度的测量方法第1部分:永磁材料MeiisurenwntmethodsJbrCurietemperatureofmagneticmaterials-I,art1zPcmanentmagneticmaterials2024T)4-25发布2024-11-01融国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会前宫IlliJInIN1范围12规范性引用文件13术语和定义14居里温度测量值的确定15居里温度的测艮25.1 振动样品(妓Sl)破盗计法25.1.1 测SU泉理25.1.2 样品25.1.3 测录装置2
2、5.1.4 标准样丛35.1.5 浏信程序35.1.6 数据处理45.2 磁称法45.2.1 测破原理45.2.2 样拈55.2.3 测艮袋置55.2.4 标准样品65.2.5 测fit程序65.2.6 数据处理75.3 抽拉法75.3.1 测艮限理75.3.2 样品75.3.3 测地装置75.3.4 测价程序85.3.5 数据处理96结果报告9附录A(贡料性)常见永磁材料的居里.湿度典型假10参考文蛾Il图1II-T曲线及居里温度TC图示I图2振动样AA磁强计法测fit装置示意图3图3感称法测量装置示意图(磁化装置为电磁铁)6图4抽技法测盘装置示意图8衣A.1常见永磁材料的居里温度巩型值IO
3、本文件按照GB/T1.12020标准化工作寻期第1部分:标准化文件的结构和起草规则令的规定起草,木文件是GB/T43870(硬性材料居里温度的测微方法的第I部分。GB/T43870己羟发布了以下部分:第1部分,永磁材料:第2部分:软毡材料。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的设任。本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。本文件由全国磁性元件与铁乳体材料标准化技术委员会(SAcTC89)归11,本文件起草单位:中国计研大学、中国电子科技娱团公司第九研究所、中国计量科学研究院、北矿碳材科技有限公司、浙江否计量科学研究院、长沙天忸测控技术有限公司、横店集团东极股份有
4、限公司、浙江中科盛业般份有限公司.本文件主要起草人:昊琼、耨洪良、王子生、彭清贵、龚文杰、刘荣明、虞志书、周新华、何双宇、黄益红、泮殷翔、杨杭福、俞能君,Ill居里温度是铁磁性/亚铁偎性材料内郃底地从有序到无序的转变温度,也即铁感性/亚铁破性和预磁性相互转变的温度,是铁磁性材料的其本特征之一.居里温度测敏是磁特性测盘的一部分.GB43870i磁性材料居里温侬的测盘方法3由两个部分构成.一一第1部分:永磁材料.目的在于规定永磴材料居里温度的测技方法.第2部分:软磁材料.目的在于规定软磁材料居里淑度的濯址方法.IV磁性材料居里温度的测量方法第1部分:永磁材料本文件描述了水样材料店里温度的测珏方法.
5、本文件适用于铝块钻永磁、铁黑体永陵、铁珞钻水出、稀上永役及其他永磁材料居里温度的测量.2提范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款.其中注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件:不注日期的引用文件,其用新版本(包括所有的修改单)适用于本文件,CB/T2900.60电工术语电磁学GB/T9637电工术语(性材料与元件GB/T38437-2019用抽拉或放找方式测量帙融材料样&,破偶极矩的方法3制和定义GB/T29O0.6(TflGBT9637界定的术语和定义适用于本文件.4MXI量值的一测量磁矩m协温度T的变化曲殴(m-T曲注),曲线斜率(dmdT)绝对
6、值最大处的切线与m=。横轴的交点,标引序号说明:1经过dnWT绝时值最大处的切战:2d11f绝对IfiJS大点.-rrmB1m-ttttJUIBU.显示5居里温度的测量5.1 振动样品(钱ES)拔强计法5.1.1 测量原理基于电磁礴应原理,能助测砥在Tfl探测设圈中心以固定频率和振幅作相对微振动样品的磁矩。对于可视为假偶极子的小样品,探测线圈中的停应电动势C见公式(1).,=Qmsm式机e探测线阍中的感应电动势,舱位为伏特(V):G一线IS几何因子,与绞圈的几何形状和位置有关,由仪器系统决定:m一样品的横矩,单位为安平方米(Am1);w样品的振动频率,单位为林我(Hz):a样品的振帽,单位为米
7、(m):t样品的振动时间,单位为杪。探测线图中的密应电动势与样品的极矩m、振动频率W和振幅a成正比,与线圈几何因子有关.由于线圉几何因子碓以确定,一股采用已知磁化强度依的标准样品进行相对测量,见公式.*-m.式中:m一样品的破矩,单位为安平方米(AMXe;样品的感应电动势,取位为伏特(V);标般样品的序应电动势,单位为伏特ex三标准样品的国矩,单位为安平方米(Am4由标准样品的质M乘以比饱和SS化覆度得到。将样品置于控温装置中,捽制甜度变化,则能测ffl:出样品的磁矩m瓶温发T的变化曲线(m-T曲线八5.1.2 样丛样品宜为块体.基于时值极予近似样品的最大尺寸应不超过4mm,可固定于样品杆末端
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