spc品质可靠性测试标准.docx

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1、品质牢靠性调试标准文件编号：ZQ-OIl001版本/状态：A/01制定：SPC办事处审H：枇发行日期;会审铸n签字会-一n卷字spc工程修sc总S1H的22执行原则33适用范用34主要职责35牢靠性测试程序35.1 环境测试35.2 静电测试35.3 结构耐久测试3O.J芋WItii-1(af(ttt(at(a(t(a35.5 元器件牢靠性测试35.6 平安器件测试31目的1.1在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲惫度，评估产品的质量和牢靠性；1.2规范牢靠性试脸作业方法。1.3作为spc品质对SPC产品放行的指导标准2执行原则Spc产品牢靠性试验程序及推断标准，严格遵守此程序。3适

2、用范围适用干品质对印C产品的出货标准.5牢靠性测试程序5.1环境测试样机标准数量：16台试验周期：10天测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴蹄潜在问题。试哙流程：见下图，其中完成环测后和跌落测试的时间间隔应不超过4小时.B环境费试产品平均失效寿命窝试坦合Ai产品平均失效寿命测试组合：样机数量：16台5.1.1功能外观检查测试目的：测试预检查测试方法：OQC功能外观检验标准进行检查测忒标准：符合成品检验指导书中全部的指标。5.1.2射频测量测试目的：测试预检查测试方法：运用8960/CMU200测试仪，参照6射频测试记录表中项目列表，对全部样品进行参数指标预料试并保存测试

3、结果测试标准：射频指标记录表中全部参数指标正常。5.1.3跌落试验测试条件:6cm厚水泥地板，2.4寸及以下1.CD跌落高度为1.2m寸1.CD为1m：3.0-3.4寸1.CD跌落高度为0.8m.3.5寸及以上1.CD践0.5m。测试目的：跌落冲击试验样机数属：16台试脸方法：将手机处于开机状态进行跌落。进行6个面的自由跌落试脸，每个面的跌落次数为I次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，其中一半样品打开翻盖跌正面和背面（即跌8个面）：对于滑蛊手机，应将一半样品滑开到上限位置,跌正面和背面（即跌8个面）跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。检验标准：手机外观，结构和功能符合要

4、求。每跌完个面进行拔号，应无掉网、美机等不良现象：拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按健功能，显示功能，触摸屏功能及灵极度，拍照功能，SPK听筒声音应无异样。间隙张开，其它部件松脱后不借用其它工具用手可以兔原的可接受，受力点有水泥沙大小的凹陷、掉涂层、划伤可接受。但涂层不允许有片状脱落、他裂，掉电及掉SDl卡以微跌为准。掉电池盖不作为不合格项，以手感拆装为准。5.1.4温度冲击测试测谎环境：低混箱：-40C:高温箱：+80C样机数量：16台测试目的：通过凹凸温冲击进行样品应力筛选试验方法：运用凹凸温冲击箱，手机带电池，设置成关机状态先放置于高温箱内持续30分钟后，在.15秒内

5、快速移入低温箱并持续30分钟后，再15杪内快速【可到高温箱为个循环，共循环24次。试脸结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，复原2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。试验标准：手机电性能指标满意要求，活动部件正常，壳件无形变，无龟裂，变色，无氧化，麻点，脱层，缝隙断差变大（断差和间隙在OJmm以下可接受）,装饰片及镜片起也不匀称。IM1.材料高温存储温度为60*C作为允收标准。5.1.5高温高湿参数测试测试环境：60,C,93%RH测试目的：高温高湿应用性能测试试验方法：将手机电池充溢电，手机处于开机状态，放入温度

6、试验箱内的架子上。持续48H,在此环境下进行电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻蛊，一半样品打开翻盖：时J滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置.检验标准：手机电性能参数指标满意要求，时钟精准,存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象：拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音，镜片和1.CD内部、TOUChIQnS内部无水印,水珠，功能正常，外壳无变形.B.环境测试样机数量：10台5.1.6低温参数测试测试环境：-20C测试目的：高温/低温应用性能测试试脸方法：将手机电池充溢电，手机处于开机状态，放入温

7、度试验箱内的架子上，调整温度限制器到-20C持续4个小时，在此环境下进行电性能参数和功能检杳.对于翻盖手机，应将一半样品合上潮盖，一半样品打开翻盖：对丁滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。检验标准：手机电性能参数指标满意要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象：拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音变小，功能正常，外壳无变形。5.1.7高温/低温存储测试环境：-40C/+80,C测试目的：高温/低温应用性功能测试试脸方法：将手机处于关机状态，放入温度试验箱内的架子上。持续48个小时之后，身

8、原至常温，然后进行结构，功能和电性能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖：对于滑蛊手机，应将一半样品滑开到上限位置。检验标准：手机电性能指标满意要求，活动部件正常，壳件无形变，无龟裂，变色，无氟化，麻点，脱层，缝隙断差变大（间隙断差OIm可接受），装饰片及镜片无起题不匀称。IM1.材料高温存储温度为60C作为允收标准。5.1.8湿热循环测试测试环境：+40,C,93RH:-10,C测试目的：高湿低温循环应用性能测试试验方法：温度限制器设到+KC,93%RH持续1个小时之后，以1小时的速率改变到-I（TC持续1小时后，以1小时的速度改变到+40C,93%RH.循环13次.在

9、此环境下进行电性能参数和功能检查.对丁翻盖手机,应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻前：对于滑盖手机，应将半样品滑开到上限位宜。检验标准：手机电性能参数指标满意要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象：拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵锹度，拍照功能，SPK听筒声音，镜片和1.CD内部、ToUCh1.enS内部无水印，水珠，功能正常，外壳无变形。5.1.9灰尘测忒测试环境：室温测试目的：测试样机结构密闭性样机数量：2台试骐方法：将手机关机后放入灰尘试验箱内。其体枳综合不得超过忒验箱的有效空间的1/3,底面积不超过有效

10、水平面枳的1/2,试验样品与试脸箱内壁距高应不小于100mI。试验箱内的气流速度应能保证试验用灰尘匀称缓慢降在试脸样品上，风速最大不超过2ms。持续8个小时之后，将手机从试验箱中取出，用布和离子风枪清洁后进行检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖：对于滑盖手机，应将一半样品滑开到限位置。试脸标准：手机各项功能正常,全部活动元器件运转自如，每个按键按10次不能有INT,声音正常，显示区域没有明显灰尘（距离22.5cm,点WO.1511un,数量W3个的灰尘数可接。5.1.10盐雾测试测试环境：35C5%NaC1.测试目的：测试样机抗盐雾腐蚀实力样机数量：2台试的方法：用氯化钠

11、含量为51%的盐溶液，PH值为6.5、7.2。允许用稀择后的化学纯盐酸或城氧化钠调整PH值.试脸有效空间温度为35C；连续喷雾的试验时间为24H；持续期满后在箱内究原到正常大气条件，稳定后保持2H,检查。检验标准：外壳表面及装饰件无明显腐蚀，（脱层，氧化5、可接受，麻点22.5cm,点W0.15mm,数量W3个可接受）等异样现象。5.1.11淋雨测试（无仪器短哲可不作要求）测试环境：室温（2025C）:样机数量：2台测试Fl的：整机抗雨淋实力试脸方法：手机关机状态下，正面朝上平放在转动平台上，以1分/转的速度通过25mm喷雨矩阵，持续10分钟。检脸标准：用干抹布将雨水擦拭干净后开机，检查手机全

12、部功能应正常。7.2等电测试电测试测试条件:+/-6kV;+/-IOkV测试Fl的：测试样机抗静电干扰性能样机数比：8台试验方法：将样机设置为开机状态，检查样机内存和功能（内存10条短信息和10个电话号码：运用功能正常）。将样机放于静电测试台的绝缘垫上，分两种状态：加充电器和不加充电器（样机与绝缘垫边缘距掰至少2英寸）。打开静电模拟器，调整放电方式，分别选择+/-6kV（接触放电），+/TOkY（空气放电），对手机指定部位连续放电10次，并对地放电。每做完个部位的测试，检查手机功能，并视察手机在测试过程中有无死机，通信徒路中断，1.CD显示异样，自动关机及其他异样现象。样机需在与8960/CM

13、U200测试仪起或10086建立呼叫连接的状态与及其它信号联接（电视，收音），MP3播放状态下进行各个放电方式、级别和极性的测试.检验标准：不作任何操作可自己宏原的软故障为可接受，不行匆原故障与及用户极简单查觉到的现象不行接受，详见牢辨性测试操作细则第备注：静电择放位置.的确定要依据中试及PQE发布的测试点。5.3结构耐久测试样机标准数量：36试验周期：3天测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露潜在问题.试验流程：结构耐久潴试钢球冲击螺母拉力翔藤测试8万次5. 3.1定向跌落试验测试条件：6cm厚水泥地板，2.4寸及以下1.CD跌落高度为1.2n寸1.CD为1m：3.0

14、-3.4寸1.CD跌落高度为0.8m.3.5寸及以上屏跌0.5m.测试目的：帙落冲击试验样机数地：16台试脸方法：将手机处丁开机状态进行跌落“进行6个面的自由跌落试缝，每个面的跌落次数为2次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机，其中-半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面)：对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位附，跌正面和背面(即跌8个面八跌落结束后对外观、结构和功能进行检杳。检监标准：手机外观，结构和功能符合要求.每跌完一个面进行拨号,应无掠网、关机等不良现象：拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能,显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK,听

15、筒声音应无异样。间隙张开，其它部件松脱后不借用其它工具用手可以复原的可接受，受力点有水泥沙大小的凹陷和掉涂必与及划伤可接受。但涂U不允许有片状脱落、龟裂掉电及擦SIM卡以微跌为准。掉电池盖不作为不合项，以手感拆装为准。拆机无螺母松脱，元器件移位。5. 3.2滑盖测试测试环境:室温(2025C)：测试目的：滑盖寿命测试测试数量:4台手机。测忒方法：将手机设置成开机状态，固定在测忒夹具上以10次/分钟速率滑盖，进行8万次滑盖测试。进行到每5000次时，进行检杳手机滑盖手感及功能一次。试验标准：手机外观，结构，及功能正常.滑盖过程无关机，显示，拍照，MlC功能不良，滑干涉晃动异响，滑机弹性弱，弹簧断，拆机FPC无磨痕，FPCRl值小于0.8欧母，滑盖不能有松动。6. 3.3翻盖测试测武环境：室温(2025C);测试目的：翻盖寿命测试测试数量：4台手机。测试方.法：以30+/