光刻机行业市场分析.docx
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1、光刻机行业市场分析第一部分:半导体工艺及光刻简介晶圆制造及光刻工艺流程半导体芯片生产主要分为IC设计、IC制造、IC封测三大环节。核心IC制造环节是将芯片电路图从掩膜转移至硅片上,并实现对应功能的过程,包括光刻、刻蚀、离子注入、薄膜沉积、化学机械研磨等步骤。光刻是IC制造的核心环节,也是整个IC制造中最复杂、最关键的工艺步骤,是集成电路制造工艺发展的驱动力。光刻的本质是把电路结构图“复制”到硅片上的光刻胶上。一般的光刻工艺要经历八道工序:气相成底膜、旋转涂胶、软烘、对准曝光、后烘、显影、坚膜烘焙和检测。光刻机在晶圆制造中的重要地位光刻工艺是芯片生产流程中最复杂、最关键的步骤,而光刻机是光刻工艺
2、的核心设备,其重要性源于三个方面:第一,光刻机价值量位列IC制造设备的榜首;第二,光刻机凝聚众多顶尖技术,壁垒极高;第三,光刻机定义集成电路尺寸,推动摩尔定律前进。从成本上看,在整个集成电路的制造过程中,往往需要进行2030次光刻工序,所以光刻一般会耗费总成本的30%,耗费时间约占整个硅片工艺的40%-60%o而光刻机在所有IC制造设备中同样位居价值量榜首,据UtmelEIeCtrOniC数据显示,光刻机投资额占全部IC制造设备的25%o从技术上看,光刻机是所有半导体制造设备中技术含量最高的设备,是现代工业的集大成者。光刻机集合了数学、光学、流体力学、高分子物理与化学、表面物理与化学、精密仪器
3、、机械、自动化、软件、图像识别领域等多项顶尖技术,其制造和研发需要高度的技术积累和持续的投入。光刻机具备极高的技术含量和单台价值量。光刻机的分类及发展历史光刻技术实质上是IC芯片制造的图形转移技术,该图像转移的过程包括把设计图纸上的图形转移到掩膜基板上,再把掩膜版上的图形转移到晶圆表面光刻胶上,最后再把晶圆表面光刻胶图形转移到晶片上,整个图形转移过程涉及到的光刻机类别众多。根据工作原理进行分类,按照光刻时是否使用掩膜,将光刻机分为掩膜光刻以及无掩膜光刻。其中,掩膜光刻包含接触式光刻机、接近式光刻机和投影式光刻机;无掩膜光刻包含激光直写光刻机、纳米压印光刻机等。光刻工艺的关键技术指标光刻机中重要
4、的性能参数主要有:分辨率、焦深、套刻精度、产率、视场、现款均匀、MTF(调控传递函数)、掩膜版误差因子等。而核心参数为分辨率、焦深和套刻精度。其中,分辨率与光刻机的最小精度相关联,焦深对光刻机成像范围有影响,套刻精度则决定了工艺层是否套叠对准。因此,这三个技术指标被视为光刻机最重要的三个因素。现如今,光刻机主要分为EUV光刻系统和DUV光刻系统两大类,其分辨率分别已经达到了I3nm和38nm,套刻精度分别达到了1.1nm和13nmASM1.的NXT360OD光刻机已经实现了160WPh的产率,最佳套刻精度甚至达到了1.1nm,分辨率可达13nm0同时,NXT2100i相较于NXT2050i在套
5、刻精度方面也有了20%的提升,能够用来生产最先进的3nm芯片。而ASM1.计划即将发行的NXE380OE,套刻精度达到了0.9nm,产率也实现了从160WPh到220wph的跨越。第二部分:光刻机及其子系统工作原理光刻机整体架构光刻机主要由光源、光路系统及物镜、双工件台、测量系统、聚焦系统、对准系统等部分组成。其中,晶圆模组部分主要负责曝光前晶片的测量与参数录入,照明光学模组部分完成晶圆的曝光。在晶圆模组部分:晶圆传送模组中,由机械手臂负责将晶圆由光阻涂布机传送到晶圆平台模组。而晶圆双平台模组负责在一片晶圆曝光的同时,将待曝光晶圆进行预对准,随后对其表面高低起伏的程度进行测量,并将相关坐标录入
6、计算机。由此,在不到0.15秒的单位曝光时间内,硅片承载台可以精准快速移动以达到最好的曝光效果。在照明光学模组部分:紫外光从光源模组生成后,被导入到照明模组,并经过矫正、能量控制器、光束成型装置等后进入光掩膜台,随后经过物镜补偿光学误差,最后将线路图曝光在已测量对准的晶圆上。光源系统:工艺能力的首要决定因素光源系统是光刻设备的核心,光源波长决定工艺能力,光刻机的技术进步也是波长不断缩短的过程。光源波长越短,则晶体管线宽越小,芯片性能越强。光源发出的光束经照明系统后穿过掩膜版,再由投影物镜系统将掩膜版上的电路图形复制到硅片表面。光源分为紫外光、深紫外光和极紫外光。最早的光刻方法为高压汞灯照明,主
7、要对g(436nm)、h(405nm)、i(365nm)三线进行曝光。第三代和第四代光刻机光源为深紫外光(DUV),使用准分子激光器产生,可实现KrF、ArF和F2。随着制程节点的缩小,短波长的极紫外光(EUV)无法从激光器中产生,需通过高能脉冲激光轰击液态锡靶形成等离子体后产生。光路系统与镜头:光刻机核心部件之一照明系统作为光刻机的核心部件之一,其作用是将光源发出的光束进行整形匀化后照明掩膜面,再由投影物镜系统将掩膜面上的图形复制到硅片表面。照明系统光路:光源经过扩束准直与传输后进入光瞳整形单元,然后再经过照明匀化单元来实现特定分布的照明光场。扫描狭缝用来确定曝光视场尺寸和中心位置,控制曝光
8、剂量,并与掩膜台和硅片台完成同步扫描曝光。中继镜组位于扫描狭缝与掩膜版之间,负责将扫描狭缝上的照明光场中继成像到掩膜面上。双工件台系统:双台交替配合,大幅提升设备产能双工件台系统由掩膜台、硅片台和控制系统三个子系统组成。1)硅片台:承载硅片,具有双运动台结构,其中粗动台负责高加速的大行程运动,微动台实现纳米级别的精确定位,影响硅片台的定位精度;2)掩膜台:构成与硅片台类似,用于承载掩膜并接受控制系统信号,粗动台与微动台协同运作,实现精准扫描;3)控制系统:发送和接收信号指令,控制上述子系统的运行。光刻机测量系统:晶圆精确曝光的前提光刻机套刻精度直接受工件台定位精度的影响,而工件台定位精度又受到
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