地质勘查中的综合物探技术应用分析.docx
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1、地质勘查中的综合物探技术应用分析本文从物探技术的概述和分类谈起,介绍了综合物探技术的基本原理,并着重阐述了综合物探技术在实际应用中的信号数据采集、分析、处理及结果资料解释等方面。标签:综合物探技术地质勘查面波信号结果处理1物探技术概述及分类1.1 物探技术概述物探即地球物理勘探法,常用于解决地质或工程问题。由于在实际地质勘查中,所要探测的特殊地质往往与其周围的介质间会有物理性质方面的差别,而这种地质间的物理差异会影响所要探测的特殊地质周围物理场的分布。因此,通常情况都利用先进的物探设备来摄取地质间物理场的分布,并将物探结果与均匀地质条件下的物理场分布进行比较,从中找出差异并研究其与所探测对象间
2、的联系,从而解决地质及工程问题。1.2 物探技术分类通常利用物探技术来比较所探测地质对象与其周围地质物理场间的差异,因此在实际物探过程中,根据所测试物理参数的不同大致将其分为:点发勘探、地震勘探、弹性波测试、放射性勘探、地质雷达技术等。综合物探技术即以上述物探技术为主,再结合其中两种或三种物探方法来解决工程或地质勘查中的实际问题。2综合物探基本原理在利用物理仪器进行探测时,地表会产生振动信号,信号在向地层传播过程中会产生面波及立波信号,其中面波信号又分为1.OVe波和Rayleigh波,立波可分为纵波和横波。在波的传播过程中,立波在遇到特殊地层时会产生较为明显的反射及折射现象,而面波遇到非均匀
3、介质时会发生频散现象。面波在不同地层条件下的具体频散特性如下:(1)当面波的波频发生变化时,面波波速会随着勘探深度的变化逐渐达到该深层地层的层速度;(2)当地层厚度改变时,速度波频曲线的图像拐点会较为明显地向低频方向移动。立波在分层地层中传播时会产生折射波,折射波分为对比折射及初至折射。此两种折射波的主要区别:初至折射波常用来追逐初至区一些界面的折射波,有较高的识别度与准确度;对比折射波主要是探测包括初至区、续至区在内的多个折射面的信号波,但是其探测过程复杂且不适用于地质速度逆转层的折射波追踪。在实际运用物探技术进行地质勘查时,主要追踪界面折射波的传播过程并通过分析折射现象来探测地层的厚度及基
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