电子与通信技术:传感器技术试题预测.docx
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1、电子与通信技术:传感器技术试题预测1、填空题周期信号可用O来描述其频谱,而非周期信号可用()来描述其频谱。正确答案:傅里叶级数;傅里叶变换2、填空题随机信号是指不能预测未来瞬时值,也无法用确切的()关系(江南博哥)式描述的信号。正确答案:数学3、单选、下列传感器不属于按基本效应分类的是OoA.半导体传感器B.磁传感器C.物理传感器D.真空传感器正确答案:D4、判断题在光纤纤维传中传播模式很多对信息传输是不利的,因为同一光信号采取很多模式传播,就会使这一光信号分为不同时间到达接收端的多个小信号,从而导致合成信号的畸变。正确答案:对5、单选在实际的热电偶测温应用中,引用测量仪表而不影响测量结果是利
2、用了热电偶的哪个基本定律OoA、中间导体定律B、中间温度定律C、标准电极定律D、均质导体定律正确答案:A6、单选聚偏二氟乙烯薄膜之所以能作为人造皮肤是因为OA、其阻抗与人的皮肤阻抗相接近;B、它是晶体;C、它具有完全各向异性的特性;D、完全各向同性的特性。正确答案:A7、单选在使用霍尔片时,减小霍尔片不等位电势通常最行之有效采用的方法是()。A、机械修磨B、化学腐蚀C、补偿网络进行补偿D、无法解决正确答案:C8、单选欲检测金属表面裂纹采用的传感器是OA.压磁式B.电涡流式C.气敏式D.光纤式正确答案:B9、单选石英晶体在沿电轴X方向的力作用下会OoA、不产生压电效应B、产生逆向压电效应C、产生
3、横向压电效应D、产生正确答案:D10、单言下列哪种温度补偿方法是常用和效果较好的补偿方法OoA.电桥补偿法B.辅助测温元件微型计算机补偿法C.应变计自补偿法D.热敏电阻补偿法正确答案:A11、问答题光生伏特效应如何产生?正确答案:当光照射到距表面很近的PN节时,如果光能足够大,光子能量大于半导体材料的禁带宽度,电子就能从价带跃迁到导带,成为自由电子。由于光生电子、空穴在扩散过程中会分别于半导体中的空穴、电子复合,因此载流子的寿命与扩散长度有关。只有PN结距表面的厚度小于扩散长度,才能形成光电流产生光生电动势。12、单选下列哪一项不是半导体应变计的主要优点OoA.耗电省B.灵敏度高C.准确度高D
4、.体积小正确答案:C13、多选在光线作用下,半导体的电导率增加的现象属于OoA.外光电效应B.内光电效应C.光电发射D.光导效应正确答案:B,D14、判断题想要提高电桥的电压灵敏度Ku,必须提高电源电压,但不受应变计允许功耗的限制。正确答案:错15、填空题内光电效应分为()和()正确答案:光电导效应;光生伏特效应16、多选在应变式传感器应用中,温度的补偿方法主要有OoA、应变计自补偿法B、电桥补偿法C、辅助测温元件微型计算机补偿法D、热敏电阻补偿法正确答案:A,B,C,D17、问答题简要说明光电式传感器的应用和特点。正确答案:光电传感器是将光信号转化为电信号的光敏器件,可用于检测直接引起光强变
5、化的非电量,如光强,辐射测温,气体成分分析等,也可用于测量能转换为光量变化的其他非电量,如零件线度,表面粗糙度,位移,速度,加速度。具有非接触,相应快,性能可靠等优点。18、问答题解释弯曲损耗?正确答案:弯曲损耗有两种类型。一种类型是由整根光纤以给定尺寸的半径弯曲所引起的,如把光纤绕在卷筒上可能引起的损耗。另一种类型称为微弯损耗,是由于纤芯轴线方向的随机变化引起的。它是由外力、纤芯或包层的不完整性、纤芯-包层界面的波动、微小的疵点等原因造成的。19、问答题什么是电阻应变效应?正确答案:是指金属导体的电阻在导体受力产生变形(伸长或缩短)时发生变化的物理现象。当金属电阻丝受到轴向拉力时,其长度增加
6、而横截面变小,引起电阻增加。反之,当它受到轴向压力时则导致电阻减小。20、填空题相位型光纤传感器通常使用相位检测的方法,该方法主要包括:O测等三种方法。正确答案:零差检测、外差检测、合成外差检21、单选半导体色敏传感器又称为OoA.双结光电二极管B.雪崩式光电二极管C.PIN型硅光电式二极管D.光电池正确答案:A22、判断题传感器动态特性可用瞬态响应法和频率相应法分析。正确答案:对23、判断题某些晶体沿一定方向伸长或压缩时,在其表面会产生电荷(束缚电荷),这种效应称为压电效应。正确答案:对24、单选在做霍尔传感器位移实验时,为了减小测量误差,应该使霍尔片与磁场强度OoA、垂直B、平行C、可以成
7、任意角度D、没有要求正确答案:A25、判断题传感器的输出一输入校准曲线与理论拟合直线之间的最大偏差与传感器满量程输出之比,称为该传感器的“非线性误差”。正确答案:对26、单选当某晶体沿一定方向受外力作用而变形时,其相应的两个相对表面产生极性相反的电荷,去掉外力时电荷消失,这种现象称为OA.压阻效应B.应变效应C.霍尔效应D.压电效应正确答案:D27、问答题什么是系统误差?产生系统误差的原因是什么?正确答案:当我们对同一物理量进行多次重复测量时,如果误差按照一定的规律性出现,则把这种误差称为系统误差。系统误差出现的原因有:工具误差:指由于测量仪表或仪表组成组件本身不完善所引起的误差。方法误差:指
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