高电压技术选择题填空题.docx
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1、(F2)高电压技术选择题及填空题1、描述气体间隙放电电压与气压之间关系的是(八)。A、巴申定律B、汤逊理论C、流注理论D、小桥理论2、防雷接地电阻值应该(八)OA、越小越好B、越大越好C、为无穷大D、可大可小3、沿着固体介质外表发生的气体放电称为(B)。A、电晕放电B、沿面放电C、火花放电D、余光放电4、能够维持稳定电晕放电的电场构造属于(C)。A、均匀电场B、稍不均匀电场C、极不均匀电场D、同轴圆筒5、固体介质因受潮发热而产生的击穿过程属于(B)0A、电击穿B、热击穿C、电化学击穿D、闪络6、以下试验工程属于破坏性试验的是1A)。A、耐压试验B、绝缘电阻测量C、介质损耗测量D、泄漏测量7、海
2、拔高度越大,设备的耐压能力(B)。A、越高B、越低C、不变D、不确定8、超高压输电线路防雷措施最普遍使用的是(B)。A、避雷针B、避雷线C、避雷器D、放电间隙9、变电站直击雷防护的主要装置是(八)。A、避雷针B、避雷线C、避雷器D、放电间隙10、确定电气设备绝缘水平时不考虑(C)。A、直击雷过电压B、操作过电压C、谐振过电压D、感应雷过电压11、对固体电介质,施加以下电压,其中击穿电压最低的是(C)。A、直流电压B、工频交流电压C、高频交流电压D、雷电冲击电压12、以下四种表述中,对波阻抗描述正确的选项是(B)。A、波阻抗是导线上电压和电流的比值。B、波阻抗是储能元件,电阻是耗能元件,因此对电
3、源来说,两者不等效C、波阻抗的数值与导线的电感、电容有关,因此波阻抗与线路长度有关D、波阻抗的数值与线路的几何尺寸有关13、波阻抗为Z的线路末端接负载电阻R,且R=乙入射电压UO到达末端时,波的折反射系数为(八)。A、折射系数=l,反射系数B=OB、折射系数a=-1,反射系数B=IC、折射系数a=0,反射系数B=ID、折射系数a=1,反射系数B=一114、氧化锌避雷器具有的明显特点是(C)。A、能大量吸收工频续流能量B、能在较高的冲击电压下泄放电流C、陡波响应能得到大大改善D、在一样电压作用下可减少阀片数15、如下电压等级线路中,要求限制的内过电压倍数最低的是(D)oA、60kV及以下B、Il
4、OkVC、220kVD500kV16、开关触头间电弧重燃,可抑制以下过电压中的(B)。A、电弧接地过电压B、切除空载变压器过电压C、空载线路合闸过电压D、空载线路分闸过电压17、纯直流电压作用下,能有效提高套管绝缘性能的措施是(C)oA、减小套管体电容B、减小套管外表电阻C、增加沿面距离D、增加套管壁厚18、由于光辐射而产生游离的形式称为(B)。A、碰撞游离B、光游离C、热游离D、外表游离19、解释气压较高、距离较长的间隙中的气体放电过程可用(八)。A、流注理论B、汤逊理论C、巴申定律D、小桥理论20、测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是(D)。A、绝缘整体受潮B、存在贯穿性的导电通道C、绝缘局部
5、严重受潮D、绝缘中的局部缺陷21、随着输电线路长度的增加线路的波阻抗将(八)。A、不变B、增大C、减小D、可能增大也可能减小22、保护间隙动作后会形成截波,对变压器类设备构成威胁的是(C)oA、对地绝缘B、主绝缘C、匝间绝缘D、相间绝缘23、发电机突然甩负荷引起的过电压属于(D)。A、操作过电压B、谐振过电压C、暂时过电压D、工频过电压24、设SI、S2分别为某避雷器及其被保护设备的伏秒特性曲线,要使设备受到可靠保护必须(B)。A、Sl高于S2B、Sl低于S2C、Sl等于S2D、Sl与S2相交25、保护间隙动作后会形成截波,对变压器类设备构成威胁的是(C)oA、对地绝缘B、主绝缘C、匝间绝缘D
6、、相间绝缘26、表示某地区雷电活动强度的主要指标是指雷暴小时与(B)。A、耐雷水平B、雷暴日C、跳闸率D、大气压强27、不能用于测量直流高压的仪器设备是(八)oA、电容分压器B、电阻分压器C、静电电压表D、高阻微安表28、极不均匀电场中的极性效应说明(D)。A、负极性的击穿电压和起晕电压都高B、正极性的击穿电压和起晕电压都高C、负极性的击穿电压低和起晕电压高D、正极性的击穿电压低和起晕电压高29、电介质的tg6值(B)。A、随温度升高而下降B、随频率增高而增加C、随电压升高而下降D、随湿度增加而增加30、以下哪种因素与tg6无关。A、温度B、外加电压C、湿度D、电压的频率31、SF6气体具有较
7、高绝缘强度的主要原因之一是(D)。A、无色无味性B、不燃性C、无腐蚀性D、电负性32、沿面放电电压、与同样距离下的纯空气间隙的放电电压相比总是(B)。A、高B、低C、相等D、不确定33、以下电介质中相对介电常数最大的是(八)OA、酒精B、纯绝缘油C、空气D、绝缘纸34、以下试验中,属于破坏性试验的是(B)。A、绝缘电阻试验B、冲击耐压试验C、泄漏电流试验D、局部放电试验35、不均匀的绝缘试品,如果绝缘严重受潮,那么吸收比K将(C)oA、远大于1B、远小于1C、约等于1D、不易确定36、能有效判别设备绝缘中的一些集中性缺陷的试验方法是(C)oA、测量tanB、测量吸收比C、测量泄漏电流D、测量绝
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